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  • 高性價比干涉式激光尺
    高性價比干涉式激光尺
    高性價比干涉式激光尺摒棄了傳統激光干涉儀的分立光學器件結構，將激光器、調制器、光電探測器和濾波器等眾多光學元件集成至單一光學芯片上，并與激光二極管、探測器陣列和光學透鏡結合，形成小型化的激光傳感模組。
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  • H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
    H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
    Heliotis H9/H9M 均為工業級白光干涉（WLI）3D 表面輪廓儀，基于低相干寬帶光在零光程差附近形成高對比度條紋，通過 Z 軸掃描與像素級相干峰 / 相位解包裹重構 3D 形貌，實現非接觸、納米級精度測量。H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
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  • TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
    TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
    Polytec GmbH提供完整的光學表面計量解決方案，用于工程表面質量檢測和形狀評估 - 無論是數控加工精密零件的平面度或臺階高度、光滑光學元件的翹曲和形狀，還是紋理、光潔度或 MEMS 和微結構分析。TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
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  • TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
    TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
    Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），以其大垂直測量范圍與納米級分辨率脫穎而出。這一特性，使得 Metro.Lab 形貌測量系統在針對大面積表面及結構的平面度、臺階高度和平行度進行非接觸式測量時表現好，哪怕面對柔軟嬌貴、極易受損的材料，也能精準探測，毫無壓力。TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
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  • SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS
    SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS
    SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS用于需要同時獲取運動角度和長度信息的測量任務。該干涉儀的測量原理基于 SP 5000 NG 測量設備。兩個測量激光束使用同一頻率的共用激光器的光。兩個測量光束之間的間距經過高精度校準。測量光束之間的平行度至關重要。
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  • VFI 光纖端面干涉儀
    VFI 光纖端面干涉儀
    VFI 光纖端面干涉儀可測量大多數標準和特種光纖，包括保偏光纖和空芯光纖。VFI 光纖端面干涉儀在研究、生產和質量保證領域已得到反復驗證。
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  • 雙頻激光干涉儀
    雙頻激光干涉儀
    雙頻激光干涉儀HPI-3D是市場上的高性能激光干涉儀之一。作為雙頻外差系統，它的測量精度和分辨率為用戶提供了大量新的選擇。非常容易使用，它既可以應用于研究實驗室，也可以用于機器幾何測量。精確的機器校準對于提供高質量的產品至關重要。使用我們的系統，您可以快速、輕松地進行精確的校準。基本配置能夠進行線性位移、振動、速度和定位的測量。
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  • 直接激光干涉圖形加工器
    直接激光干涉圖形加工器
    直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡便地、高速地在大范圍區域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。
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  • 激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測
    激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測
    激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測是所有的光學模組和激光器集成在一個手持式，耐用和輕便的機殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測了。
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  • 光纖法布里-珀luo干涉儀
    光纖法布里-珀luo干涉儀
    光纖法布里-珀luo干涉儀系列產品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。FFP 的設計簡潔優雅的關鍵在于其無透鏡全光纖結構。沒有準直光學器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術的缺陷，包括未對準、環境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數。工程師可以將其設計到 OEM 系統中，因為他們知道它將提供非常接近理論數學模型的結果。
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  • 皮米級絕對距離測量干涉儀
    皮米級絕對距離測量干涉儀
    皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉換為頻率變化的測量。當F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在發生變化，通過測量初始腔長，初始頻率和頻率變化，就可實現測量腔長。
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  • 多波長動態干涉儀
    多波長動態干涉儀
    Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。
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