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TopMap Metro.Lab 白光干涉儀(3D形貌儀)

簡要描述:Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab,是一款高精度白光干涉儀(相干掃描干涉儀),以其大垂直測量范圍與納米級分辨率脫穎而出。這一特性,使得 Metro.Lab 形貌測量系統在針對大面積表面及結構的平面度、臺階高度和平行度進行非接觸式測量時表現好,哪怕面對柔軟嬌貴、極易受損的材料,也能精準探測,毫無壓力。TopMap Metro.Lab 白光干涉儀(3D形貌儀)

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2025-12-24
  • 訪  問  量:103
詳細介紹
品牌昊量光電產地類別進口
應用領域綜合

TopMap Metro.Lab 白光干涉儀(3D形貌儀)


Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab,是一款的高精度白光干涉儀相干掃描干涉儀),TopMap Metro.Lab 白光干涉儀(3D形貌儀)的大垂直測量范圍與納米級分辨率脫

穎而出。這一特性,使得 Metro.Lab 形貌測量系統在針對大面積表面及結構的平面度、臺階高度和平行度進行非接觸式測量時表現,哪怕面對柔軟嬌貴、極易受損的材料,

也能精準探測,毫無壓力。

作為一套完備的測量站設備,一旦您有測量各類表面大面積形貌的需求,TopMap Metro.Lab 無疑是。它擁有高達 70 mm的大垂直測量范圍,即便是在極為嚴苛、復雜的測

量條件下,也能穩定達成亞nm 級分辨率的測量,精準度令人贊嘆。


TopMap Metro.Lab 白光干涉儀的優勢:

37x28mm大單像場(擴展尺寸 87 x 78 毫米)

70mm靈活、較大的 Z 范圍

2.83nm高垂直分辨率

48個月免費保修 + 軟件終身更新


TopMap Metro.Lab 白光干涉儀的亮點:

● 采用光學干涉原理,非接觸式測量

● 遠心鏡頭具備性能,即便對于位置低洼的點位,也能精準測量

● Z向測量范圍達 70 mm,非常靈活

● 即使是較大被測面,亦能快速測量

● 增強版本的測量視場大幅提升,可達約 80×80 mm2

● 軟件操作簡便且支持自動化運行,可生成符合 DIN/ISO 標準的參數

● 憑借智能表面掃描技術,幾乎能夠應對任何表面,精準檢測反射率差異極大的表面

● 可集成于防塵、減震的工作站中,以便在車間使用

● 4 年免費保修和終身軟件更新


規模小、預算少

TopMap Metro.Lab 性價比高,無論是在計量實驗室,還是在緊鄰生產線的場所,于各類工作場景下都具吸引力。相較于傳統的接觸式測量方法,它能夠開展更為全面深入的表面分析。同所有 TopMap 系統一樣,其開放式軟件架構賦予用戶強大的自主性,您不僅能夠針對常規任務編寫程序,還能定制專屬的用戶界面 。


規格表



技術參數
則試臺尺寸87×78x70 mm =0.00048 m3
單次測試至多測點X:1284,Y:966,X·Y:1240344
至多測點X:2969,Y:2662,X·Y:7903478
光學參數
則試范圍X:37 mm,Y:28 mm,X·Y:1036 mm2
工作距離2.5(-2.5/+5)mm
垂直測試范圍70 mm
則點間距X:29.3μm Y:29.3μm
黃向光學分辨率計算值21.4 μm
橫向范圍可擴展至87 mm x 78 mm
數據簡化后,橫向測試范圍可擴展至87 mm x78 mm
垂直范圍可擴展至不可擴展
性能特征
測量噪聲1 nm(相位估算)
垂直分辨率2.83 nm(相位估算)
通用參數
尺寸[L×W×H]580 mmx340 mm x 372 mm
重量約27 kg
功耗100 ...240 VAC±10 %,50/60 Hz;至大40 W
環境溫度范圍20±3℃
工作/存儲溫度范圍+5℃...+35℃1-10℃...+65℃
相對濕度至大80%,無冷凝
光生物安全IEC/EN 62471:2009-03
電氣安全IEC/EN 61010-1:2011-07;EMV:IEC/EN61326:2006-10
供貨清單干涉儀、控制器、工控機、連接電纜、1個濾光片、TMS軟件及軟件狗
其它參數
工作原理掃描式白光干涉法(邁克爾遜)
光學部件遠心鏡頭;光源:長壽命LED,波長525 nm
形貌格式:SUR,ASCII數據格式輸出格式:qs-STAT,PDF,BMP,PNG,TIFF,GIF
應用參數
典型的平面度測量(單一視場掃描測試)1
平面度偏差光滑表面2:<100 nm,粗糙表面3<375 nm
可重復性5光滑表面2:<20 nm,粗糙表面3<50 nm
典型臺階高度測試4
名義臺階高度50 μm 450 μm 1000 μm 2000 μm 5000 μm
可重復性560.30 μm 0.25μm 0.30 μm 0.25μm 0.25μm
臺階高度測量至大偏差63.53μm 7.30 μm 5.53 μm 5.07 μm 6.18μm

1. 由試驗數據取整,以及幾臺TMS-150 TopMap Metro.Lab測量不同高度的樣品的平面度的統計值。在平面鏡上測量(使用大視場的95%)。

2. 相關曲線相位估計

3. 相關曲線包絡線估計

4. 試驗測定的典型結果,該測量是在校準過的PTB標準深度模型,A1型(ISO 5436-1)上進行的

5. 在可重復條件下的一系列測量值的變化,幾臺同型號設備的測試數據的平均值

6. 可重復條件下測量21次

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